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MProbe MSP显微薄膜测厚仪
测量范围: 1 nm -800um波长范围: 200 nm -1700 nm光斑直径:200um-4um适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很
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紧凑型高精度反射膜厚仪
技术参数型号SR-CVSR-CN基本功能获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱光谱波长范围380-800nm650-1100nm测量厚度范围50nm-20um100nm-200um测量时间
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反射式膜厚测量仪
再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm
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膜厚仪
anoMap-1000WLI 膜厚仪仪器简介:该膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动
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Delta-DUV反射式膜厚测试仪
干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例
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膜厚监测仪
230V 50 Hz (3 Amp Max) EMS 150膜厚监控仪和喷金仪/离子溅射仪/喷碳仪/蒸发镀膜仪配套使用,以便对膜厚进行监控。提供内置模块和外接装置。EMS 150膜厚监控仪
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膜厚监测仪
:温度0-50℃,湿度5%-85%RH,不得有冷凝水珠11、外形尺寸:90mm×50mm×18mm EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。主要
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大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
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Surfix BFN两用基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
μm,读数背景光 【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合Surfix BFN外置探头两用基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
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CM100膜厚仪
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